NF S10-132-2-2007 光学.显微物镜系列.第2部分:波前像差的试验办法
作者:标准资料网 时间:2024-05-17 23:04:06 浏览:8924
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【英文标准名称】:Opticsandphotonics-Microlensarrays-Part2:testmethodsforwavefrontaberrations.
【原文标准名称】:光学.显微物镜系列.第2部分:波前像差的试验办法
【标准号】:NFS10-132-2-2007
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2007-02-01
【实施或试行日期】:2007-02-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:像差;使用;执行;透镜;测量;测量电路;显微物镜系列;光学仪器;光学;参数;光子学;质量;试验报告;试验;波前
【英文主题词】:Aberration;Applications;Implementation;Lenses;Measurement;Measurementcircuits;Microlensarray;Opticalinstruments;Optics;Parameters;Photonics;Quality;Testreports;Testing;Wavefront
【摘要】:
【中国标准分类号】:N32;L50
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:34P;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:光学.显微物镜系列.第2部分:波前像差的试验办法
【标准号】:NFS10-132-2-2007
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2007-02-01
【实施或试行日期】:2007-02-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:像差;使用;执行;透镜;测量;测量电路;显微物镜系列;光学仪器;光学;参数;光子学;质量;试验报告;试验;波前
【英文主题词】:Aberration;Applications;Implementation;Lenses;Measurement;Measurementcircuits;Microlensarray;Opticalinstruments;Optics;Parameters;Photonics;Quality;Testreports;Testing;Wavefront
【摘要】:
【中国标准分类号】:N32;L50
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:34P;A4
【正文语种】:其他
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